课程概述

• 帮助理解测量系统的统计特性，认识测量系统对过程控制中数据收集的影响。采用在教员引导下的练习，使学员学会偏倚、 稳定性、线性、重复性、再现性分析的实践经验，具备开展测量系统分析和改进的能力。
• 学员带着零件和量具参加培训；主要讲解 MSA过程中的难点，包括如何做测量系统 的分析计划、如何选择零件、如何做到一 次盲测、如何判定、如何改进；介绍MSA第四版与第三版中判定准则的差异（采用 统计假设测验）；提供了对计数类量具的测量评价方法；对于性能测试、破坏性试 验等如何研究他们的稳定性。

课程收益

• 定义测量系统、理解测量系统变差及其来源；
• 确定测量系统分析的范围、资源、人员需求， 制订分析计划； 
• 具备基本的运算能力，以评价测量系统存在 的偏倚、稳定性、线性、重复性、再现性、 准确度和精确度；
• 通过测量系统分析，提高选用、维护和改进 测量系统有效性的能力； 
• 满足IATF16949和MSA手册等的要求；

课程对象
直接负责数据收集、控制图构筑和监控、以及对产品和过程特性的测量作统计分析的人员。

课程时长

• 标准版：1天 
• 定制版：可以根据企业需求和学员状态，调整课程重点，减少或增加课程内容及课程时长。

课程大纲
第一章测量系统概述

• 测量的定义
• 测量系统的定义
• 理想的测量系统
• 测量系统的变差来源；（PISMOEA模型）
• 测量系统误差的影响（对产品检验、对过程控制）
• 测量系统分析的概念

第二章测量系统的几个基本特性

• 测量系统误差（准确度和精确度）的概念
• 测量系统的几个基本特性（分辨力、偏倚、线性、稳定性、重复性、再现性）
• 测量不确定度的概念

第三章测量系统的策划和测量系统分析计划

• 测量系统的策划（APQP、FMEA、测量计划、量具的配备、量具的设计、采购或制造、测量系统分析计划、测量系统分析）
• TS等标准对MSA的要求

第四章计量型测量系统的分析方法和判断准则

• 偏倚的分析方法与判断准则
• 线性的分析方法与判断准则
• 稳定性的分析方法与判断准则
• GRR的分析方法与判断准则；（极差法、均值极差法、方差分析法）

第五章计数型测量系统的分析方法和判断准则

• 计数型测量系统的小样法简介
• 计数型测量系统的风险分析法；（Kappa）
• 计数型测量系统的信号探测法
• 计数型测量系统的解析法

第六章破坏型测量系统的分析方法和判断准则故障的基本知识

• MSA第四版新版的主要更新
• 澄清MSA和校准的关系
• 更清晰的定义测量决策
• 改进了偏倚和线性内容
• 重写了高级的MSA技术（包括破坏型实验）
• 偏倚和线性研究
• 基于标准偏差的研究
• 可重复性分析
• 基于目标Pp的GRR 分析
• NDC 定义和更新
• 计数型分析的更新
• Test Stands
•  强调了现有的概念
• 测量的不确定度和MSA
• APQP 和MSA的关系
• 强调了系统的模式
• 测量源的开发

联系方式
具体开课日期及详情您可咨询：Freya Yang  邮箱：freya.yang@intertek.com